定位:LT‑TS02A 是面向电磁继电器与固态继电器(SSR)的综合参数测试系统,以“可编程线圈驱动 + 高速触点时序采集 + 四线低阻/安规综合测试 + 工控软件调度”的一体化架构,实现自动化、可溯源、可审计的继电器性能检测与判定。
适用于继电器制造厂终检/出货检、第三方检测机构及主机厂 IQC/验证试验中,对动作/释放特性、时间特性、接触质量与电气安全进行系统化评估。
LT‑TS02A 将试验中所需的关键资源(驱动电源、高精度电阻测试、高速采集检测、示波器监测、绝缘耐压测试、工控一体机)集中为一套落地式测试平台,并通过统一软件完成:
测试项自动调度与仪器自动切换(按选定测试类别)
数据自动采集、判定(PASS/NG)与报表生成
条码/批次追溯与数据存储(可对接 MES)
系统强调“可重复、可计量、可复核”:满足对继电器在实际工况附近的电性能与安规边界进行标准化评定,而非仅凭经验抽样。
场景 | 典型用途 |
|---|---|
继电器生产/质检 | 动作/释放参数一致性、接触电阻稳定性、时间特性统计、安规批量筛查 |
第三方检测/认证试验室 | 按型号规格建立可复现的测试流程与归档报告 |
主机厂/使用单位 IQC | 入库验证:线圈参数、触点质量、绝缘耐压是否满足来料规范 |
研发与失效对比 | 批次对比、老化前后参数漂移、异常件波形复盘(含回跳/震颤观测) |
被测对象覆盖:
电磁继电器(多组常开/转换触点)与固态继电器(输入/输出侧参数、漏电流、接通电阻等)(注:最终可测项取决于型号触点数与工装适配)。
动作(吸合)电压 / 释放(跌落)电压:可编程升降压斜率,板级高速检测触点状态翻转时刻,记录对应线圈端电压。
线圈电阻:四线制直流电阻测量,降低引线误差。
保持(线圈)电流:额定电压激励下,高精度采集线圈回路电流。
吸合时间(Operate time):线圈激励到触点闭合的延迟(支持最长组取值,最多4组常开触点时序比对)。
释放时间(Release time):线圈断电到触点断开的延迟(同上逻辑)。
回跳/振荡(Bounce / 触点稳定时间):基于触点电平波形判定“首次动作 → 稳定区域”的非稳态持续区间,用于评价机械震颤与接触碰撞带来的通断抖动(对开关噪声与电弧风险很关键)。
上述时间类项目以系统的高速采集/检测板与示波器监测能力为支撑,可输出波形依据供复核。
接触电阻(主触点):四线制方式,配合开关矩阵对不同触点组自动切换测量。
接触压降/导通损耗相关信息:在额定激励下量化导通侧表现(依设置项目而定)。
绝缘电阻(IR):高压侧绝缘阻抗测试(系统配套综合安规仪方案)
介质耐压(HI‑POT):绕组—触点/触点—触点等路径的耐电压验证(AC/DC依配置与工艺要求)
以下为技术方案所列主要组成;最终配置以合同/BOM为准。
序号 | 设备/模块 | 规格要点(摘自方案) |
|---|---|---|
1 | 线圈驱动可编程直流电源 | 0~150 VDC / 4 A,分辨率 0.01 V / 0.001 A,显示精度约 ±0.25%FS;稳压/稳流源效应 ≤0.1%,时漂 ≤0.3%(≥8 h),温漂 ≤0.04%/℃,负载效应 ≤0.2%;纹波 ≤0.01%+10 mV |
2 | 高精度电阻测试仪 | 例:同惠 TH2516A/TH2516B级:四线法;范围 1 μΩ~20 kΩ;准确度约 0.1%;接口:USB/RS‑232/HANDLER |
3 | 电气安全性能综合测试仪 | 例:耐压/IR综合:AC耐压 0.05~5.00 kV;DC耐压 0.05~6.00 kV;绝缘电阻 50~3000 V,范围约 0.1 MΩ~50 GΩ(区段误差见下方安规段) |
4 | 数字示波器(监测/波形复盘) | 200 MHz / 4CH / 8 GSa/s |
5 | 台式数字万用表 | 5½位;电压 100 mV~1000 V;电流 100 µA~3 A(10 A档);显示精度约 0.015% |
6 | 高速采集/检测板(触点时序) | 定制板卡:用于动作/释放/回跳等时间判定(板上逻辑+阈值判定,并可联动示波器复核) |
7 | 工控一体机与软件 | 17"工控一体机;CPU i5;内存 16G;SSD 128G;6×COM;可视化定制软件;含数据库存储、Excel报表、条码(新大陆 HR32‑BT)、LAN;可配合甲方做MES数据接口/解析 |
8 | 测试机柜与专用工装 | 定制机柜布局;按型号配置测试座/转接工装;支持后续型号扩展(“外接线+软件定义接线”方式) |
此处为方案给出的典型量程/分辨率/精度口径(电磁继电器部分),用于表达系统能力边界与读数可信度层级。
参数 | 量程 | 分辨率 | 精度口径(方案原文) |
|---|---|---|---|
绕组/动作/释放电压 | 0~150 V | 1.5 mV | ±0.25% ±0.02 V |
绕组电阻 | 4 Ω~40 kΩ | 0.1 Ω | ±0.25% |
绕组(保持)电流 | 0~1000 mA | 0.05 mA | ±0.25% |
触点(接触)电阻 | 1 μΩ~20 kΩ | 多档(20 mΩ…20 kΩ) | ±0.5% ±0.5 mΩ |
动作时间 | 0~100 ms | 100 ns | ±1% ±50 ns |
回跳/复位时间 | 0~6.5 ms | 100 ns | ±1% ±100 ns |
介质耐压(系统安规) | 至 5 kV AC(rms)/DC | 1 V | ±0.5% |
注:固态继电器(SSR)测试口径另有对应量程(输入接通/关断电压电流、输出接通电阻/压降/漏电流、on/off时间等),整体同样以“可编程激励 + 采集判定 + 安规边界”框架覆盖。
绝缘/耐压区段误差口径
IR:50–499 V 区段约 ±(5%RDG+2d);500–3000 V 区段 ±(2%RDG+2d);高GΩ区段误差放宽(10–50 GΩ约 ±15%RDG+2d)。
登录/选型号:调取该型号测试模板(门限、项目组合、安规设定)。
上件/扫码:扫描条码 → 绑定序列号/批次。
自动测试:软件按顺序调用电源、电阻仪、安规仪、采集板;性能测试与安规测试按规则分步执行。
实时显示:电参数数值区 + 波形区 + 结果列表(每项 PASS/NG)。
归档/输出:本地数据库存储;Excel报表输出;可按约定推送MES(数据结构化,便于追溯)。
冯经理13825062139(微信同号)
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